產品資料

鍍膜電阻測試儀HPS2523

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產品名稱: 鍍膜電阻測試儀HPS2523
產品型號: HPS2523
產品展商: 海爾帕科技
產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

鍍膜電阻測試儀HPS2523 是海爾帕科技結合行業需求,專門推出的一款針對薄膜金屬化檢測的測試儀。薄膜金屬化是生產金屬化有機薄膜電容器的關鍵工序。金屬層的厚度是薄膜金屬化盾量的重要參數之一。


鍍膜電阻測試儀HPS2523  的詳細介紹
鍍膜電阻測試儀HPS2523 
鍍膜電阻測試儀HPS2523 
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鍍膜電阻測試儀HPS2523 
鍍膜電阻測試儀HPS2523 
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  HPS2523鍍膜電阻測試儀是海爾帕科技結合行業需求,專門推出的一款針對薄膜金屬化檢測的測試儀。薄膜金屬化是生產金屬化有機薄膜電容器的關鍵工序。金屬層的厚度是薄膜金屬化盾量的重要參數之一。它對金屬化薄膜電容器的電性能影響很大,不同用途的金屬化薄膜電容器對金屬層的厚度有不同的要求。而均勻金屬薄層的厚度可用單位面積所體現的電阻(簡稱方阻)表征。
     HPS2523鍍膜真流電阻測試儀可方便地測試鍍膜的方阻(每平方厘米電阻量值)。HPS2523可用點測和面測兩種方式測試鍍膜的方阻,可更詳細地分析薄膜金屬化的質量。
       海爾帕科技的同仁為了更準確的方阻測量,從方阻測量的基本原理著手優化了現有的的面測試方式,使得HPS2523鍍膜電阻測試儀測量更精準,操作更簡便。
主要技術規格:
電阻范圍: 測量范圍:  0Ω-99.99Ω,
           分辨率:  10mΩ(準 確 度(20℃±10℃):  ≤±(1%+3個字)
方阻測量范圍:0——99.99Ω/cm2
測試電流:恒流1 mA /10mA /100 mA(自動)
測量方式:點測量方式和面測量方式
應用:
測量均勻平面薄層材料每平方厘米內的電阻量值。

       

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